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離子污染分析儀
- 更新日期：2024-08-12
- 訪問(wèn)次數(shù)：1598?
離子污染分析儀 動(dòng)態(tài)測(cè)試離子污染是一種被廣泛認(rèn)可和遵循的標(biāo)準(zhǔn)。所以,也是設(shè)備使這一切成為可能-SCS Ionograph®，有不同的型號(hào)可供選擇，SCS Ionograph是檢測(cè)技術(shù)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
離子污染分析儀
美國(guó)SCS Ionograph SMD V型落地式動(dòng)態(tài)離子污染測(cè)試儀
特點(diǎn)：
動(dòng)態(tài)測(cè)試離子污染是一種被廣泛認(rèn)可和遵循的標(biāo)準(zhǔn)。所以,也是設(shè)備使這一切成為可能-SCS Ionograph®，有不同的型號(hào)可供選擇，SCS Ionograph是檢測(cè)技術(shù)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
概述：
SCS Ionograph®是離子污染測(cè)試中的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)常用的清潔標(biāo)準(zhǔn)。使用“動(dòng)態(tài)"測(cè)試方法,這條線給你一個(gè)可靠的測(cè)試溶液在一個(gè)合理的價(jià)格。另外,SCS Ionograph系列有四個(gè)新設(shè)計(jì)的型號(hào)-Ionograph SMD V和臺(tái)式小型,標(biāo)準(zhǔn)型和大型-都通過(guò)我們*的SCS PowerView™軟件來(lái)操作。
SCS Ionographs客戶(hù)提供可靠和有效的測(cè)試功能,包括:
遵守行業(yè)規(guī)范包括MIL-STD-2000A, IPC-TM-650 和 ANSI/J-STD-001
控制水和半水溶性光清洗過(guò)程和印刷電路板組裝
清洗和清潔過(guò)程的控制
測(cè)試,以防止腐蝕或產(chǎn)品與離子污染有關(guān)的性能問(wèn)題
清潔度測(cè)試性能敏感的小部件
潔凈室的清潔測(cè)試特定的產(chǎn)品,如手套,夾具、裝配工具和臨界裝置組件用于精確制造
沒(méi)有清潔/低殘?jiān)鞒痰倪^(guò)程控制,包括噴霧焊劑涂敷器設(shè)置和監(jiān)控
特性：
SCS Ionograph SMD V特性：
專(zhuān)為在生產(chǎn)環(huán)境中很大部件離子污染檢測(cè)
浸入式攪拌噴嘴和可選的萃取液加熱器靈敏度
可提供方便的板載所有功能于一身的電腦或平板電腦
通過(guò)SCS PowerView的軟件操作
測(cè)試槽有4個(gè)不同尺寸可選。
技術(shù)指標(biāo)：
SCS Ionograph SMD V Ionic Contamination Test System*
| 測(cè)試槽尺寸(W x H, D) | 18 x 20 in, 5 in 頂部 和 3.1 in 底部 26 x 20 in, 5 in 頂部 和 3.1 in 底部 30 x 26 in, 5 in 頂部 和 3.1 in 底部 38 x 26 in, 3.5 in 頂部和底部 |
| 估計(jì)溶液容量 | 8 Gal, 30 L 11 Gal, 40 L 17 Gal, 64 L 22 Gal, 81 L |
| 尺寸(W x H x D) | 43.5 x 39.1 x 26.7 in / 110.5 x 99.3 x 67.8 cm |
| 重量 | 382 磅 / 173 千克 |
| 電源要求 | 120 VAC, 60 Hz, 10 A / 230 VAC, 50 Hz, 5 A |
| 最大工作溫度 | 113℉ / 45℃ |
*超過(guò)溫度控制：雙重故障保護(hù)。
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離子污染分析儀
————什麼是離子污染？
離子污染是產(chǎn)品表面殘留的污染物之一種，它在潮濕環(huán)境中會(huì) 電離為帶有正負(fù)電荷的可自由移動(dòng)的導(dǎo)電離子。
————離子污染的危害是什麼？
離子污染物在環(huán)境潮濕時(shí)，會(huì)迅速降低產(chǎn)品表面的絕源阻抗， 對(duì)電子產(chǎn)品帶來(lái)不可預(yù)期的影響。同時(shí)會(huì)加速焊點(diǎn)的腐蝕，加快錫 須的生長(zhǎng)速度，影響產(chǎn)品壽命與安全性。在做三防塗敷工藝時(shí)， 會(huì)影響塗層的可靠性。
————如何測(cè)試離子污染？
測(cè)試產(chǎn)品的離子污染程度，簡(jiǎn)單的辦法就是使用離子污染測(cè)試儀器，根據(jù)測(cè)試過(guò)程的不同，測(cè)試分為動(dòng)態(tài)測(cè)試（IPC-TM-650 2.3.26）和靜態(tài)測(cè)試（IPC-TM-650 2.3.26.1）兩類(lèi)。