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X射線熒光光譜儀能量色散檢測(cè)儀XRF
- 更新日期：2024-11-11
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X射線熒光光譜儀能量色散檢測(cè)儀XRF島津EDX-720 島津EDX 島津 能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-720采用當(dāng)今*的技術(shù)，能夠精確地對(duì)塑料、金屬及電子部件的成分進(jìn)行定性分析、定量分析和定性半定量分析，滿足目前RoHS的分析要求。儀器的分析元素含蓋11號(hào)元素到92號(hào)元素。
X射線熒光光譜儀能量色散檢測(cè)儀XRF
edx-720光譜儀 測(cè)ROHS 目前已經(jīng)停產(chǎn)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
EDX-720 能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-720采用優(yōu)秀技術(shù)，能夠精確地對(duì)塑料、金屬及電子部件的成分進(jìn)行定性分析、定量分析和定性半定量分析，滿足目前RoHS的分析要求。儀器的分析元素含蓋11號(hào)元素到92號(hào)元素。
詳細(xì)介紹：
一、EDX-720 X射線熒光光譜儀主機(jī)部分:
1、 X射線發(fā)生器單元
X射線管
類型Rh靶
冷卻方法空冷（附風(fēng)扇）
2、X射線電源單元
電壓5-50kV，每步1Kv（測(cè)定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時(shí)，可以用50ｋV。但測(cè)定輕元素時(shí)，15kV是*的。另在工作曲線法中，隨時(shí)可設(shè)定*電壓。）電流 1-1000μA，每步1μA
穩(wěn)定度±0.01%（外電壓波動(dòng)±10%）
保護(hù)電路過(guò)電壓, 過(guò)電流, 過(guò)功率,
X射線連鎖保護(hù)
（特點(diǎn)說(shuō)明：電壓、電流可以由計(jì)算機(jī)控制自動(dòng)調(diào)節(jié)，滿足不同元素的高精度分析，同時(shí)滿足RoHS，ELV指令擴(kuò)展的要求）
3、一次X射線濾波片 5種自動(dòng)交換
（特點(diǎn)說(shuō)明：不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進(jìn)行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準(zhǔn)確度的測(cè)量數(shù)據(jù)。EDX-720進(jìn)行元素分析時(shí)可以自動(dòng)判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片，無(wú)須手動(dòng)更換）
二、EDX-720 X射線熒光光譜儀檢測(cè)器:
1、檢測(cè)器
類型Si（Li）檢測(cè)器
液氮只有在分析時(shí)添加
液氮消耗少于1升/天
檢測(cè)面積10mm2
分析元素Na-U
分辨率：小于150電子伏特
（特點(diǎn)說(shuō)明：采用液氮制冷方式的檢測(cè)器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實(shí)績(jī)、穩(wěn)定性上，Si(Li)半導(dǎo)體是性的實(shí)績(jī)（島津檢測(cè)器是自己生產(chǎn)，在萬(wàn)一發(fā)生故障也迅速對(duì)應(yīng)）。 掘場(chǎng)按振動(dòng)檢測(cè)器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹(shù)脂中的Cd、Pb時(shí)，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時(shí)不能檢出，還有因?yàn)槭堑蛷?qiáng)度，在測(cè)試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計(jì)數(shù)單元
放大器
擬合時(shí)間10μ秒
增益變化高/低
多道分析器（MCA）
變頻型順序比較ADC
道數(shù)2048道
最大計(jì)數(shù)率232-1/道
三、EDX-720 X射線熒光光譜儀樣品室與測(cè)定室單元
1、樣品室
蓋子自動(dòng)開(kāi)啟/關(guān)閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測(cè)定時(shí)蓋子自動(dòng)上升與下降。
最大樣品尺寸300mm 直徑 x 150mm高
（特點(diǎn)說(shuō)明：樣品室自動(dòng)開(kāi)啟，樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有效避免X光的泄露，滿足日本及中國(guó)X射線的泄露控制標(biāo)準(zhǔn)。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測(cè)試，無(wú)須切割）
2、測(cè)定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑1、3、5、10mm可選
（特點(diǎn)說(shuō)明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測(cè)試。）
測(cè)定室開(kāi)孔13mm
3、測(cè)定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確定位分析區(qū)域。
X射線熒光光譜儀能量色散檢測(cè)儀XRF